一種基于標(biāo)準(zhǔn)差的圖像自適應(yīng)壓縮感知采樣的方法及裝置

專利狀態(tài)：未下證

專利號：2016111096238

所屬：企業(yè)

專利簡介：本發(fā)明公開了一種基于標(biāo)準(zhǔn)差的圖像自適應(yīng)壓縮感知采樣的方法及裝置，其中，該方法包括：對原始圖像進(jìn)行分塊預(yù)處理，確定多個圖像塊；依次確定每個圖像塊的灰度值標(biāo)準(zhǔn)差；并對圖像塊的灰度值標(biāo)準(zhǔn)差進(jìn)行規(guī)范化處理；根據(jù)圖像塊的灰度值標(biāo)準(zhǔn)差為圖像塊分配相對應(yīng)的采樣數(shù)，采樣數(shù)不超過圖像塊的像素個數(shù)，其中灰度值標(biāo)準(zhǔn)差較大的圖像塊分配的采樣數(shù)不小于灰度值標(biāo)準(zhǔn)差較小的圖像塊分配的采樣數(shù)；根據(jù)圖像塊的采樣數(shù)構(gòu)造圖像塊的測量矩陣，并確定圖像塊的灰度值測量值；分別根據(jù)圖像塊的灰度值測量值重構(gòu)圖像塊，并確定重構(gòu)圖像。該方法可以針對性的對不同圖像塊分配不同的采樣數(shù)，能夠有效減小或消除塊效應(yīng)，提高重構(gòu)圖像的重構(gòu)質(zhì)量。

1.變更專利需要多久?

一般為25天。

2.專利的有效期是多少年?

發(fā)明專利20年;實(shí)用新型專利10年;外觀設(shè)計專利10年。